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Con esta capacitación los participantes obtendrán conocimiento teórico y operativo sobre la medición independiente de la fuente, así como una base sólida del análisis SIM en el diseño de complejos sistemas de audio.
El seminario también proporcionará un breve repaso de la teoría SIM y el desarrollo de sistemas, seguido por una puesta en común del uso de procedimientos de campo para el analizador de audio SIM 3. Los asistentes estudiarán las complejas interacciones de altavoces en una variedad de configuraciones y entornos acústicos desde los puntos de vista de la respuesta de fase, frecuencia e impulso.
Las sesiones de las capacitaciones que se realizarán del 1 al 5 de marzo y del 30 de agosto al 3 de septiembre, serán dictadas en español por Óscar Barrientos, y la del 27 al 30 de abril, por Bob McCarthy, en inglés, con traducción disponible en español.